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杭州科赋机电设备有限公司成立于2011年7月，公司位于浙江省杭州市滨江区（高新区）江南大道3778号A座3楼，公司业务覆盖浙江、江苏、上海、安徽、福建、江西等省市，主要经营系列三坐标测量机、非标检测试验设备、自动化检测集成软件及配套硬件，亦是专业从事检测仪器的设备集成商，公司凭借多年在材料力学、长度计量、化学分析、无损检测等领域的从业经验，为广大的客户提供了性能优良、精度高、性价优益的检测仪器设备，公司有专业团队，依托设备生产商的鼎力支持，为您提供推荐选型，帮助您的企业在选择优益的技术完善您产品的可靠性检测。为您企业提供的产品在市场竞争中保驾护航。
1、杭州科赋PONY系列三坐标测量机
机型特征
PONY系列三坐标测量机，机械结构采用桥移动式，运动平稳、精度可靠、外形美观。是目前通用的中小型测量机，得到广泛应用；
工作台、横梁和Z轴均采用天然黑色花岗岩精细研磨而成，热膨胀系数低，温变小。并使三轴保证相同的热力学状态，随温度成线性变化，避免了测量空间的形变和扭曲；
全封闭的三轴设计结构，预应力空气轴承环抱式设计，轴承系统采用自清洁配以小孔节流技术，保障三轴导轨的高刚性和大承载能力，保障零磨损和流畅的操作；
有限元分析模块化设计结构，确保稳定性的同时对于操作和维护极其方便；整机一体式设计，提高了机器的抗震性和机械精度，并确保了机器设备良好的动态性和长期稳定性。
•采用传统的桥式移动结构
•三轴导轨采用热稳定性好的花岗岩材质，四面环抱气浮轴承技术
•传动系统采用柔性齿形带，传动稳定无振动
•全系产品可配置单点触发和连续扫描测头
•Y轴（横梁）长度800mm-2000mm，Z轴高度600mm-1500mm
•X轴长度可达5000mm。
2、杭州科赋EDS能谱仪
实时电子图像及元素分布图像呈现
同步呈现电子图像以及元素分布图同步呈现，无需在二者间频繁切换
灵活记录
在快速的扫描样品时，稍做停留即可获得高质量元素分布图
路径记录
自动记录位置信息，以及相应位置的元素信息，不会漏掉任何感兴趣的特征
以不同亮度呈现元素含量的分布情况，一目了然
选择感兴趣的位置，一键返回
Ultim@Max提供硬件支持
大面积能谱效率效果好，是实时获得元素面分布图的硬件保证
Ultim®Max探头采用了更大的SDD晶体以及高灵敏的Extreme集成电路
更大的晶体有效面积(40mm²,65mm²，100mm²,170mm²)保证了所有情况下的高计数率
低噪音X射线探测提供最准确的结果可在高达400kcps的计数率下进行准确定量
定性分析计数率高于1000kcps
3、杭州科赋MarSurf CD140轮廓测量仪
MarSurf CD 140轮廓测量仪介绍
新的测针系统结合了坚固性和稳ding性。可变的测量力甚至允许您使用MarSurf CD测量从Rz 2μm起的粗糙度。较低的工件高度和集成的TY调节也可确保稳定的测量起点。因此，即使在接近生产环境时使用，MarSurf CD系列测量站也可提供可靠而准确的结果。0.75µm的低接触误差允许小的生产公差。
创新的技术：
快速测轴
X 方向定位速度高达 200 mm/s
是前代 MarSurf PCV 和 MarSurf CD 120 速度的 25 倍以上
此系列所有测量站都有全功能 CNC Z 轴
Z 轴速度约是 Mahr 旧型号 Z 轴的两倍
是市场上常见的 X 轴速度的 5 倍以上
高度灵活的智能测头系统
通过集成芯片识别测杆
标准测量范围高达 70 mm；490 mm 测杆时 100 mm
磁性测杆底板，更换测杆无需工具
测头系统耐用且灵活
可选：可以扩展粗糙度评定
创新的工件固定系统
安装板 390 x 430 mm，孔尺寸 50 mm
集成 60 mm TY 调整
安装板和集成 TY 调整的组合使您不再需要额外的 XY 工作台
较少的工件设置可实现较短的测量循环，因此带来良好的测量结果
4、杭州科赋JSM-IT200扫描电子显微镜
■主窗口ーZeromag观察ー
使用主窗口显示的样品架示意图和光学CCD图像*1，能寻找视野和定位分析位置。
■显示谱图和显示元素显示谱图和显示元素ーLiveAnalysis分析*2ー
通过显示谱图和显示元素，能确认正在观察中的视野的谱图及主要元素。
■数据管理图标数据管理图标ーSMILEVIEW
TM
Lab数据集中管理ー按下数据管理图标并显示数据管理窗口后，从SEM图像到分析，对全部数据能创建批量报告、
查看数据并重新分析数据。
JSM-IT200在完成样品交换的同时，开始观察需要的视野。
按照导航流程操作，也可以安全、方便、可靠地交换样品。
■样品交换导航
样品交换导航是从打开样品室到开始观察过程中进行导航的功能。
■Zeromag
只需扩大光学图像，就可以过渡到SEM图像
Zeromag功能将与样品台位置关联的样品架示意图、CCD图像*（光学图像）和SEM图像实现了联动。可以直观地寻找分析区域，只需放大光学图像就可以过渡到SEM图像，因而能防止弄错观察目标和样品。
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发表于 2025-11-4 11:23:58
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