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变频器中电子元器件的失效机理与故障分析

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发表于 2021-3-7 17:38:06 | 显示全部楼层 |阅读模式
电子设备绝大部分的故障最终都是由元器件老化损坏引起,如熟悉各种器件的特性,损坏机理及故障类型,就能依赖万用表简单测电阻,导通压降等很快找出故障,所以了解熟悉电子器件的失效机理和故障现象,对发现分析解决故障有很大帮助。

主要是晶体管,二极管,MOS管,可控硅等,其中关键测试PN结,失效原因一般是设计制造质量,过压,过流,温度,潮湿,老化等引起。
常见故障有:
1)击穿:常由于PN结被电压电流打坏,引起正反向电阻接近或导通接近0,用数字表PN结档测量很容易测出。但是对一些软故障如热击穿要一定条件下才能出现解决。

2)开路:往往是通过电流过大引起,同上测PN结很容易发现,正反向电阻都无穷大。
3)放大倍数变化,性能下降且受温度影响引起,一般对数字电路影响不大。对模拟放大电路可能引起失真噪音或啸叫。
4)驱动性能下降或失效:对MOS管,由于其栅极一不小心就会被静电击穿造成管子损坏,所以搬移安装中千万注意;可控硅的控制极也有可能击穿损坏,检测中要注意。

不同晶体管结构不同,检查方法也不同,MOS管测内部寄生二极管(续流二极管)
只要击穿了该管子也损坏了。对可控硅从等效电路图来测相应的数值判断。







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发表于 2021-3-7 18:40:24 | 显示全部楼层
看到这帖子真是高兴!
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发表于 2021-3-8 18:17:07 | 显示全部楼层
楼主您的技术水准,我最服你,其他都是浮云
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发表于 2025-11-22 18:08:40 | 显示全部楼层
这波分析到位,逻辑满分!
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发表于 2025-11-26 20:19:37 | 显示全部楼层
水个经验,支持楼主,加油呀
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发表于 2025-11-26 20:30:46 | 显示全部楼层
楼主太会说了,字字句句都在理~
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发表于 2025-11-26 20:35:10 | 显示全部楼层
浅评一下:内容优质,值得推荐~
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发表于 2025-11-26 20:35:54 | 显示全部楼层
理性围观,感觉大家说得都有道理
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发表于 2025-11-26 20:36:48 | 显示全部楼层
赞同 + 10086,没毛病,完全没毛病
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发表于 2025-11-26 20:37:07 | 显示全部楼层
已转发给朋友,一起感受这份快乐~
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